17/02/2012 - 16:53

Nâng cao chất lượng và độ an toàn của pin nhờ kỹ thuật kiểm tra từ bên trong

 

Nhu cầu sử dụng pin đang ngày một tăng, không chỉ cho các thiết bị bỏ túi như điện thoại di động, camera, máy nghe nhạc mà còn cho cả xe điện và máy thu-phát điện sử dụng các nguồn năng lượng tái sinh. Nhưng một khi pin bị hư, chúng ta không có cách nào để kiểm tra và khắc phục.

Mới đây, các nhà nghiên cứu thuộc Đại học Cambridge (Anh), Đại học Stony Brook và Đại học New York (Mỹ) đã phát triển phương pháp kiểm tra pin từ bên trong, dựa trên công nghệ chụp ảnh cộng hưởng từ (MRI). Trở ngại lớn nhất là công nghệ MRI không được dùng cho vật chứa nhiều kim loại, trong khi đây là thành phần chính trong nhiều loại pin. Để khắc phục, các chuyên gia làm một số thay đổi nhỏ trên bề mặt các điện cực của pin, cho phép họ có thể kiểm tra nhiều loại pin trong điều kiện hoạt động bình thường. Nhóm nghiên cứu cho biết công nghệ MRI giúp họ nhìn thấu hoạt động bên trong pin và cả những hạn chế của nó. Ví dụ, ở những cục pin lithium thông thường, họ có thể thấy quá trình tích tụ chất lithium trên các điện cực sau khi sạc. Lớp lithium này cũng có thể tách khỏi bề mặt, trở nên quá nóng khiến pin hư hỏng, thậm chí có thể gây cháy hoặc nổ.

Theo các chuyên gia, kỹ thuật này hứa hẹn giúp các nhà sản xuất nghiên cứu cải tiến chất lượng, độ an toàn và tính linh hoạt của pin hóa học cũng như pin nhiên liệu.

TRÍ VĂN (Theo Science Daily)

Chia sẻ bài viết